Электрический пробой в чистом n- и p-Si

Представлены результаты расчета зависимостей кинетических коэффициентов ударной ионизации и термической рекомбинации от электрического поля в чистом кремнии. По аналогии с германием рассчитаны зависимости поля электрического пробоя Ebr от степени компенсации материала K. Дано подробное обоснование правомочности такого расчета. Представлены кривые Ebr(K) и проведено сравнение с экспериментальными данными в области слабых компенсаций. Выполнена привязка к экспериментальным результатам, при которой наблюдается удовлетворительное соответствие теории и эксперимента.

Авторы
Банная В.Ф. 1 , Никитина Е.В. 2
Издательство
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Номер выпуска
3
Язык
Russian
Страницы
291-294
Статус
Published
Том
52
Год
2018
Организации
  • 1 Московский педагогический государственный университет
  • 2 Российский университет дружбы народов, 117198 Москва, Россия
Цитировать
Поделиться

Другие записи

Avatkov V.A., Apanovich M.Yu., Borzova A.Yu., Bordachev T.V., Vinokurov V.I., Volokhov V.I., Vorobev S.V., Gumensky A.V., Иванченко В.С., Kashirina T.V., Матвеев О.В., Okunev I.Yu., Popleteeva G.A., Sapronova M.A., Свешникова Ю.В., Fenenko A.V., Feofanov K.A., Tsvetov P.Yu., Shkolyarskaya T.I., Shtol V.V. ...
Общество с ограниченной ответственностью Издательско-торговая корпорация "Дашков и К". 2018. 411 с.