Методы расчета рефракционных индексов тонких кристаллических пленок

Описаны алгоритмы и численные методы решения задачи по определению коэффициентов диэлектрической проницаемости тонких кристаллических пленок, базирующиеся на спектрофотомстрическом измерении пропускания и отражения в видимом диапазоне.

Thin Crystall Films Refraction Indices Determination

A stable method developed for solving the inverse problem of determination the dielectric tensor of Thin Crystal Films (TCF). The method works on the base of spectrophotometry data measurements of light propagation and reflection in visual waves range.