Analysis of octadecyltrichlorosilane treatment of organic thin-film transistors using soft x-ray fluorescence spectroscopy

Авторы
Kang S.J. 1 , Yi Y. 1 , Kim C.Y. 1 , Whang C.N. 1 , Callcott T.A. 2 , Krochak K. 3 , Moewes A. 3 , Chang G.S. 3
Журнал
Applied Physics Letters
Издательство
American Institute of Physics
Номер выпуска
23
Язык
Английский
Страницы
1-3
Статус
Опубликовано
Том
86
Год
2005
Организации
  • 1 Institute of Physics and Applied Physics|Yonsei University
  • 2 Department of Physics and Astronomy|University of Tennessee
  • 3 Department of Physics and Engineering Physics|University of Saskatchewan
Цитировать
ГОСТ MLA RIS BibTex
Поделиться

Другие записи