International Journal on Minority and Group Rights. Том 10. 2003. С. 203-220
Pb+ implanted SiO2 probed by soft x-ray emission and absorption spectroscopy
Авторы
Zatsepin D.A. 4, 1 , Kurmaev E.Z. 1 , Hunt A. 2 , Moewes A. 2 , Gavrilov N.V. 3 , Zhidkov I.S. 4 , Cholakh S.O. 4
Издательство
Elsevier B.V.
Номер выпуска
18
Язык
Английский
Страницы
3381-3384
Статус
Опубликовано
Том
357
Год
2011
Организации
- 1 X-ray Emission Spectroscopy Lab|Institute of Metal Physics|RAS Ural Div.
- 2 Ural Federal University
- 3 Department of Physics and Engineering Physics|University of Saskatchewan
- 4 Institute of Electrophysics|RAS Ural Div.
Поделиться
Другие записи
Acta Crystallographica. Section E: Structure Reports Online. Том 67. 2011. С. o1128-o1129