Электрический пробой в чистом n- и p-Si

Представлены результаты расчета зависимостей кинетических коэффициентов ударной ионизации и термической рекомбинации от электрического поля в чистом кремнии. По аналогии с германием рассчитаны зависимости поля электрического пробоя Ebr от степени компенсации материала K. Дано подробное обоснование правомочности такого расчета. Представлены кривые Ebr(K) и проведено сравнение с экспериментальными данными в области слабых компенсаций. Выполнена привязка к экспериментальным результатам, при которой наблюдается удовлетворительное соответствие теории и эксперимента.

Авторы
Банная В.Ф. 1 , Никитина Е.В. 2
Издательство
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Номер выпуска
3
Язык
Русский
Страницы
291-294
Статус
Опубликовано
Том
52
Год
2018
Организации
  • 1 Московский педагогический государственный университет
  • 2 Российский университет дружбы народов, 117198 Москва, Россия
Цитировать
Поделиться

Другие записи