Detecting a Hierarchy of Deep-Level Defects in the Model Semiconductor ZnSiN<sub>2</sub>

Авторы

De Boer T. ¹ , Moewes A. ¹ , Häusler J. ² , Rudel S.S. ² , Schnick W. ² , Strobel P. ³ , Boyko T.D. ⁴

Журнал

Номер выпуска

Язык

Английский

Страницы

27959-27965

Статус

Опубликовано

Том

125

Год

2021

Организации

Цитировать

Статья

Kartashkin V.A., Abashidze A.Kh.

International Journal on Minority and Group Rights. Том 10. 2003. С. 203-220

Статья

Huyghebaert D., St.-Maurice J.P., Mcwilliams K., Hussey G., Howarth A.D., Rutledge P., Erion S.

Journal of Geophysical Research: Space Physics. Том 126. 2021. e2021JA029857 с.

Detecting a Hierarchy of Deep-Level Defects in the Model Semiconductor ZnSiN2