Электрический пробой в чистом n- и p-Si

Представлены результаты расчета зависимостей кинетических коэффициентов ударной ионизации и термической рекомбинации от электрического поля в чистом кремнии. По аналогии с германием рассчитаны зависимости поля электрического пробоя Ebr от степени компенсации материала K. Дано подробное обоснование правомочности такого расчета. Представлены кривые Ebr(K) и проведено сравнение с экспериментальными данными в области слабых компенсаций. Выполнена привязка к экспериментальным результатам, при которой наблюдается удовлетворительное соответствие теории и эксперимента.

Авторы
Банная В.Ф. 1 , Никитина Е.В. 2
Издательство
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Номер выпуска
3
Язык
Русский
Страницы
291-294
Статус
Опубликовано
Том
52
Год
2018
Организации
  • 1 Московский педагогический государственный университет
  • 2 Российский университет дружбы народов, 117198 Москва, Россия
Цитировать
Поделиться

Другие записи

Аватков В.А., Апанович М.Ю., Борзова А.Ю., Бордачев Т.В., Винокуров В.И., Волохов В.И., Воробьев С.В., Гуменский А.В., Иванченко В.С., Каширина Т.В., Матвеев О.В., Окунев И.Ю., Поплетеева Г.А., Сапронова М.А., Свешникова Ю.В., Фененко А.В., Феофанов К.А., Цветов П.Ю., Школярская Т.И., Штоль В.В. ...
Общество с ограниченной ответственностью Издательско-торговая корпорация "Дашков и К". 2018. 411 с.