Методика автоматизации научных исследований функциональных характеристик наноструктурированных элементов в современных индикаторных устройствах

Описаны проведенные исследования методов и средств измерения основных параметров жидкокристаллических структур и тонкопленочных электролюминесцентных излучателей. Сформулированы концептуальные подходы к разработке автоматизированных систем измерения светотехнических параметров наноструктурированных индикаторных элементов1

Авторы
Максимова О.В. 1 , Мойсеенко С.В. 2
Журнал
Автоматизация в промышленности
Издательство
Общество с ограниченной ответственностью Издательский дом ИнфоАвтоматизация
Номер выпуска
10
Язык
Русский
Страницы
52-56
Статус
Опубликовано
Год
2018
Организации
  • 1 Ульяновский институт гражданской авиации
  • 2 Российский университет дружбы народов
Ключевые слова
тонкопленочный индикатор; яркость; светоотдача; жидкие кристаллы; автоматизация; формализация; измерения; электролюминесценция
Цитировать
ГОСТ MLA RIS BibTex
Поделиться

Другие записи