EVALUATION OF THE PRECISION OF ELECTRON-DENSITY AND ELECTROSTATIC POTENTIAL FROM X-RAY-DIFFRACTION DATA

Авторы

LOBANOV N.N. , TSIRELSON V.G. , SHCHEDRIN B.M.

Журнал

Издательство

Наука

Номер выпуска

Язык

Русский

Страницы

589-595

Статус

Опубликовано

Том

Год

1990

Цитировать

Статья

Kartashkin V.A., Abashidze A.Kh.

International Journal on Minority and Group Rights. Том 10. 2003. С. 203-220

Статья

VOLYANSKII O.V., ZAITSEV B.E., IVLIEVA V.I.

ЖУРНАЛ НЕОРГАНИЧЕСКОЙ ХИМИИ. Том 35. 1990. С. 1172-1177