HIGH EFFECTIVE TXRF SPECTROMETRY WITH USING WAVEGUIDE-RESONANCE STRUCTURES ArticleEgorov E.V., Egorov V.K., Kotova A.A., Borisov S.A.Успехи прикладной физики. Том 7. 2019. С. 401-430
STUDY OF SILICON CARBIDE EPITAXY ON SILICON SUBSTRATE ArticleEgorov V.K., Egorov E.V., Kukushkin S.A., Osipov A.V.Вакуумная техника, материалы и технология. 2018. С. 83-93
ABOUT PECULIARITIES OF X-RAY NANOPHOTONICS ON THE BASE OF THE PLANAR X-RAY WAVEGUIDE-RESONATORS ArticleEgorov V.K., Egorov E.V.Успехи прикладной физики. Том 5. 2017. С. 534-548